探针5针测试PCB/FPC 多间距兼容 性能达6G

射频探针早于1980年，在此之前，由于没有一种能够在安装或贴合状态下对单片微波集成电路(MMIC)装置进行测试的简便方法，因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏，引发系统干扰或降低电力负载。早期的RF探针使用的是共面陶瓷材料，而陶瓷不能太弯曲，因而压触的弹性范围并不大，同时支持的射频频率也较低，个探针仅覆盖到18 GHz