射频测试探针

射频测试探针

测试探针通常由适合探针针型的波导或同轴连接器组成。探针针型包括单针、接地/信号针、接地/信号/接地针以及同轴针等。这些探针适用于连接位于半导体晶圆、芯片表面或印刷电路板(PCB)表面上的元件/设备测试点或针盘。如果由于性能、成本或空间限制而无法在表面或元件/设备上放置同轴或波导连接器，在这种情况下通常会采用探针。

射频测试探针较常见的用途之一是对处于高频工作状态的元件和设备进行晶圆级测试。在某些情况下，一些射频测试探针适用于测试较高工作频率达到数百GHz的毫米波电路。还有几种类型的射频测试探针，可以通过焊接或以机械的方式连接到测试表面（通常是PCB的表面）。但它们只在这种高质量和高成本的互连是**必要的情况下使用，因为它们通常无法在不牺牲互连质量的情况下撤回。