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产品描述
当探针与待测设备接触时,以及当探针在沿Z-Y平面移动的过程中发生弯曲时,探针Z轴将会发生变化。理想的探针滑移量为1密耳(25μm)。探针的冲程越大,或探针所受的下压力越大,探针在针垫上的滑移量便越大。探针的滑移率越小,其对过大冲程的耐受程度就越高
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